GL-ZDGJ   платформа для тестирования датчиков

Испытательная платформа для датчиков GL-ZDGJ в основном используется для экспериментов по обнаружению и изучению работы распространённых датчиков и состоит из двух основных частей: экспериментальной системы обнаружения датчиков и системы применения датчиков.

Ⅰ. Экспериментальная система обнаружения датчиков

Экспериментальная система обнаружения датчиков использует ПЛК или встроенный блок управления в качестве основного блока управления, а каждый датчик и связанное с ним экспериментальное оборудование – в качестве испытательного и исполнительного блока. Она представляет собой интегрированный комплексный испытательный стенд для датчиков благодаря промежуточному процессорному модулю и системе взаимодействия человек-компьютер. Для облегчения процесса обучения необходимы вспомогательные программные ресурсы для обучения работе с датчиками. Экспериментальная система обнаружения датчиков состоит из главной консоли, источника вибрации, источника температуры, источника вращения, гидравлического источника, датчика и соответствующих экспериментальных шаблонов, карты сбора данных и программного обеспечения для обработки, экспериментального стола и вспомогательного программного обеспечения для обучения и т. д., что позволяет проводить эксперименты по принципу действия и эксплуатационным характеристикам датчиков деформации, температуры, давления, дифференциальных трансформаторов и других датчиков.

Ⅱ. Система применения датчиков

Она позволяет проводить эксперименты с датчиками давления в гидравлических системах, расхода и перемещения (дистанционная линейка, емкостный бесконтактный датчик, индуктивный бесконтактный датчик, фотоэлектрический датчик, датчик наклона и т.д.).

Ⅲ. Технические параметры

1. Входное напряжение: 220 В переменного тока ±10%, 50 Гц

2. Мощность устройства:<500 ВА

3. Размеры: испытательный стенд для датчиков: 1400 мм x 700 мм x 1200 мм

4. Защита от протечек: имеет функцию защиты от протечек и соответствует действующим стандартам.

Ⅳ. Главная консоль

1. Экспериментальный стенд

Экспериментальный стенд изготовлен из двухслойной стали с матовым плотным напылением; столешница изготовлена из огнестойкой, водонепроницаемой и износостойкой ДСП высокой плотности; предусмотрен запираемый ящик для хранения экспериментальных проводов и материалов, а также шкаф для хранения экспериментальных модулей и датчиков; Компьютерный стол имеет сборную конструкцию, оснащен отсеком для размещения компьютера, выдвижной полкой для клавиатуры и т.д.; четыре универсальных колеса в нижней части обеспечивают удобство перемещения и размещения оборудования.

2. Основная консоль

Она выполнена из двухслойной стали с матовым плотным напылением и алюминиевой панели управления. Текстовые символы нанесены с помощью современной технологии цветного напыления, а логотип на панели четкий и долговечный.

3. Питание: однофазное трехпроводное, выход через устройство защиты от утечки тока, индикация питания и защита от перегрузки по току.

4. Обеспечивает стабильное питание постоянного тока с регулируемым напряжением ±15 В, +5 В, ±2 ~ ±10 В, регулируемым напряжением 2 ~ 24 В, с функцией защиты от короткого замыкания.

5. Частотомер/тахометр: диапазон измерения частоты 1 ~ 9999 Гц, диапазон измерения скорости 1 ~ 9999 об/мин.

6. Таймер: 0 ~ 9999 с, точность 0,1 с.

7. Источник нагрева: напряжение переменного тока 0–220 В, температура<150 °C (регулируется).

8. Источник вращения: 0–2400 об/мин (регулируется).

9. Источник вибрации: частота вибрации 1–30 Гц (регулируется).

Ⅴ. Система сбора данных

1. 8 аналоговых входов: 6 однополярных входов напряжения или 3 дифференциальных входа, 2 входа тока

2. Разрешение АЦП: 12 бит

3. Максимальная частота дискретизации: 100 кбит/с (по всем каналам).

4. Различные методы дискретизации: дискретизация по времени, дискретизация фиксированной длины, одношаговая дискретизация, дискретизация в реальном времени

5. Фильтрация нижних частот на входе, защита от перенапряжения

6. 16 цифровых (коммутируемых) входов и выходов: 8 входов, 8 выходов

7. Поддержка выходных сигналов: синусоидальный, прямоугольный, треугольный, пилообразный, произвольный

8. Регулируемая частота сигнала: 0–10000 Гц

9. Поддержка протокола связи 485

10. Поддержка протокола связи Modbus

VI. Испытательный стенд позволяет выполнять следующие экспериментальные проекты:

1. Принцип действия датчика и эксперимент по его характеристикам

(1) Эксперимент по характеристикам одноплечевого мостового тензорезистора с металлической фольгой

(2) Эксперимент по характеристикам полумостового тензорезистора с металлической фольгой

(3) Эксперимент по характеристикам полномостового тензорезистора с металлической фольгой

(4) Эксперимент по применению полного моста постоянного тока – электронные весы

(5) Эксперимент по применению полного моста переменного тока – измерение вибрации

(6) Эксперимент по измерению давления диффузионным кремниевым пьезорезистивным датчиком давления

(7) Эксперимент по температурным характеристикам платинового резистора

(8) Эксперимент по температурным характеристикам медного резистора

(9) Эксперимент по измерению температуры термопары K-типа

(10) Эксперимент по измерению температуры термопары E-типа

(11) Эксперимент по характеристикам дифференциального трансформатора

(12) Эксперимент по регулированию температуры

(13) Эксперимент по регулированию скорости

(14) Эксперимент по сравнению характеристик одноплечевого, полумостового и полномостового тензорезистора с металлической фольгой

(15) Эксперимент по влиянию температуры на деформацию металлической фольги Датчик

(16) Эксперимент с системой сбора данных (статический пример)

(17) Эксперимент с системой сбора данных (динамический пример)

2. Эксперимент с измерением давления и расхода

(1) Эксперимент с измерением гидравлического давления

(2) Эксперимент с измерением гидравлического расхода

3. Эксперимент с измерением смещения

(1) Эксперимент с измерением бесконтактного датчика (индуктивность, емкость, фотоэлектрический)

(2) Эксперимент с измерением путевого датчика

(3) Эксперимент с измерением смещения оптоволоконным датчиком

(4) Эксперимент с измерением смещения Холла

(5) Эксперимент с измерением наклона

(6) Эксперимент с измерением фотоэлектрического энкодера

(7) Эксперимент с измерением линейного смещения

(8) Эксперимент с измерением углового смещения